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試驗中發(fā)現(xiàn)絕緣電阻很低、泄露電流不合格,介質(zhì)損耗卻合格的原因

作者:恒電高測 發(fā)布時間:2021-05-27
? ? ? ?絕緣電阻很低、泄露電流很大的不合格設(shè)備,一般表面被試品的并聯(lián)支路中,某一支路絕緣電阻較低,而介質(zhì)損耗因素試驗值是并聯(lián)等值電路值,總是介于并聯(lián)電路中各支路大與小值之間,且更接近于體積較大或電容較大部分的值,只有當絕緣狀況較差的部分占總體積很大時,實測介質(zhì)損耗因素值才會體現(xiàn)得比較明顯,而若是所占體積比較小時,測得的介質(zhì)損耗因素值可能仍在合格范圍內(nèi),特別是對大型變壓器等設(shè)備尤其如此,因此要綜合分析,避免錯誤判斷。

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